SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法
标准号：SJ/T 11394-2009中文名称：半导体发光二极管测试方法
发布日期：2009-11-17
实施日期：2010-01-01
中国标准分类号：L41;L45
国际标准分类号：31.260
发布单位：CN-SJ
文件格式：PDF
页数：31页
适用范围：本标准规定了半导体发光二极管（以下简称器件）的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。 本标准适用于可见光、白光半导体发光二极管。紫外发射二极管、红外发射二极管、半导体发光组件和芯片的测试可参考执行。
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