SJ 21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法
标准编号:SJ 21347-2018中文名称:低温器件与组件极低温度筛选试验方法
英文名称:Cryogenic screening test method for cryogenic device and assembly
发布部门:国家国防科技工业局
发布日期:2018-01-18
实施日期:2018-05-01
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